本篇目录:
- 1、薄膜干涉检验时,怎样才能得到平行的条纹?
- 2、利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图(a)所示,现使透明标准板M和待...
- 3、请问在利用薄膜干涉检查平面的平整程度时,为什么被检查平面要放在下面...
- 4、对于薄膜干涉检测表面平整度的问题,如果某点凹下或突起后的光程与平...
- 5、如何利用牛顿环的原理来检查平面玻璃表面的质量
薄膜干涉检验时,怎样才能得到平行的条纹?
利用光的干涉来检测物体表面的平整度可以用一个标准平板在上方,待测平板在下方,组成空气劈尖。如果待测平板表面不平整,产生的等厚干涉条纹就会发生弯曲。
在等倾干涉中‘标准面和被检测面之间的空气膜为反射膜。若待测表面确是很好的平面,则空气膜到处等厚或者是规则的楔形。当光照射时,薄膜形成的干涉光强呈一片均匀或是平行、等间隔的直条纹。
.基本方法如图甲所示,两板之间形成一层空气膜,用单色光从上向下照射,入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波,形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的,得到的干涉图样必是等间距的。
增透通带更宽和平坦,增透谷点在可见光谱中央(所以显绿色)。 从使用角度上说,绿膜镜的对比和色彩还原好于其他。取四分之一波长就是为了起到减反射作用,使得入射光和反射光相差二分之一的相位,相互叠加。减少反射。
你所说的日常普通玻璃,并不一定是光学上所说的平行平板。注意:所有干涉现象都要使用相干光照明才可观察到稳定的干涉条纹。此外,平行平板的条纹是需要其他设备才可以观察到的。
利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度.如图(a)所示,现使透明标准板M和待...
.基本方法如图甲所示,两板之间形成一层空气膜,用单色光从上向下照射,入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波,形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的,得到的干涉图样必是等间距的。
利用光的干涉来检测物体表面的平整度可以用一个标准平板在上方,待测平板在下方,组成空气劈尖。如果待测平板表面不平整,产生的等厚干涉条纹就会发生弯曲。
这是利用等厚干涉来检测工件的平整度,同一干涉条纹对应着相同的空气膜的厚度,故称为等厚干涉。
利用的是两块楔形玻璃间的空气薄膜(即上一块玻璃的下表面,和下一块玻璃的上表面之间的薄膜)光从上表面射入时,会在这层空气薄膜中发生衍射现象。
请问在利用薄膜干涉检查平面的平整程度时,为什么被检查平面要放在下面...
利用光的干涉来检测物体表面的平整度可以用一个标准平板在上方,待测平板在下方,组成空气劈尖。如果待测平板表面不平整,产生的等厚干涉条纹就会发生弯曲。
就是干涉条纹应该是介质厚度相等的点的轨迹,当平面平整时,厚度均匀变化,条纹为直线。
干涉法检查平整度中凹凸情况的两种判定方法:1.基本方法如图甲所示,两板之间形成一层空气膜,用单色光从上向下照射,入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波,形成干涉条纹。
对于薄膜干涉检测表面平整度的问题,如果某点凹下或突起后的光程与平...
上面一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉。若待测面光洁度也高,在上板观测到的亮线与暗线平行。
由于这个劈尖的顶角很小,因此可认为平行光线垂直射向上面和下面。
.基本方法如图甲所示,两板之间形成一层空气膜,用单色光从上向下照射,入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波,形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的,得到的干涉图样必是等间距的。
这是利用等厚干涉来检测工件的平整度,同一干涉条纹对应着相同的空气膜的厚度,故称为等厚干涉。
如何利用牛顿环的原理来检查平面玻璃表面的质量
1、原理大致可以理解为,当物体表面凸起时,被薄膜反射出的两列频率相同的光在同一垂直方向上相干(具体内容就不细说了)。此时垂直方向上两列相干波的相位差恒定,等于这一位置上下两板距离的两倍。
2、检验方法:先将样板标准面和待检验平板表面擦静,然后使这两个面紧密接触,并尽量排除两接触面之间的空气,然后从样板上方观察会发现彩色的光圈环带。
3、在加工光学元件时,广泛采用牛顿环的原理来检查平面或曲面的面型准确度。在牛顿环的示意图上,B为底下的平面玻璃,A为平凸透镜,其与平面玻璃的接触点为O,在O点的四周则是平面玻璃与凸透镜所夹的空气气隙。
4、改变牛顿环仪下的那个反光镜的角度及光源的高度和位置,使光从牛顿环仪下表面入射,观察到的牛顿环干涉条纹就是透射光产生的干涉条纹,与反色光形成的条纹不同之处在于它是中心是暗纹,反射光的是亮纹。
5、用等厚干涉原理检验光学平面的表面平整度,一般都是选用尖劈干涉。如果是牛顿环,方法类似,就是看条纹是不是对称,是不是圆周,如果是,就是平整的,如果不是,就不是平整的。
到此,以上就是小编对于薄膜干涉检查平面跟夹角的关系的问题就介绍到这了,希望介绍的几点解答对大家有用,有任何问题和不懂的,欢迎各位老师在评论区讨论,给我留言。
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